金融界2024年1月12日消息,据国家知识产权局公告,台湾积体电路制造股份有限公司申请一项名为“半导体器件的沉积方法“,公开号CN117393435A,申请日期为2023年5月。
专利摘要显示,本公开涉及半导体器件的沉积方法。一种方法,包括:将第一材料沉积在衬底中的凹部的侧壁表面上,其中,第一材料是导电材料;在沉积第一材料之后,使用等离子体辅助沉积工艺在凹部的底表面上沉积第二材料;以及在沉积第二材料之后,去除第一材料。
文 / 夏洛特 来源:第三方供稿
金融界2024年1月12日消息,据国家知识产权局公告,台湾积体电路制造股份有限公司申请一项名为“半导体器件的沉积方法“,公开号CN117393435A,申请日期为2023年5月。
专利摘要显示,本公开涉及半导体器件的沉积方法。一种方法,包括:将第一材料沉积在衬底中的凹部的侧壁表面上,其中,第一材料是导电材料;在沉积第一材料之后,使用等离子体辅助沉积工艺在凹部的底表面上沉积第二材料;以及在沉积第二材料之后,去除第一材料。
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