长鑫存储取得接触窗结构、金属插塞及其形成方法、半导体结构专利,减小了两者的接触电阻

文/Lisa2024-03-31 01:42:01来源:第三方供稿

金融界2024年3月28日消息,据国家知识产权局公告,长鑫存储技术有限公司取得一项名为“接触窗结构、金属插塞及其形成方法、半导体结构“,授权公告号CN114256136B,申请日期为2020年9月。

专利摘要显示,一种接触窗结构、金属插塞及其形成方法,所述接触窗结构的形成方法、半导体结构,在目标层表面上形成环形垫片,所述环形垫片中间具有暴露出目标层部分表面的中央通孔;形成覆盖所述基底、目标层和环形垫片的介质层;刻蚀所述介质层,在所述介质层中形成与中央通孔连通的刻蚀孔;沿刻蚀孔和中央通孔去除所述环形垫片,使得中央通孔的尺寸变大,所述刻蚀孔与尺寸变大后的中央通孔构成接触窗结构。通过形成的环形垫片,在形成接触窗结构时,通过去除所述环形垫片时,可以使得中央通孔的尺寸变大,从而使得接触窗结构底部的尺寸会变大,在接触窗结构中形成金属插塞时,使得金属插塞底部与目标层的接触面积增大,减小了两者的接触电阻。

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长鑫存储取得接触窗结构、金属插塞及其形成方法、半导体结构专利,减小了两者的接触电阻


金融界2024年3月28日消息,据国家知识产权局公告,长鑫存储技术有限公司取得一项名为“接触窗结构、金属插塞及其形成方法、半导体结构“,授权公告号CN114256136B,申请日期为2020年9月。专利摘要显示,一种接触窗结构、金属插塞及其...

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