杰普特取得激光波长调制测量装置及其测量方法、测量系统专利,能够解决现有技术中采用光谱分析仪测量激光波长时,其测量精度受限的问题
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杰普特取得激光波长调制测量装置及其测量方法、测量系统专利,能够解决现有技术中采用光谱分析仪测量激光波长时,其测量精度受限的问题

文 / Lisa 来源:第三方供稿

金融界2024年4月4日消息,据国家知识产权局公告,深圳市杰普特光电股份有限公司取得一项名为“激光波长调制测量装置及其测量方法、测量系统“,授权公告号CN113049227B,申请日期为2021年3月。

专利摘要显示,一种激光波长调制测量装置及其测量方法、测量系统,涉及激光技术领域。该激光波长调制测量装置包括控制器、电源、波形发生器、激光器驱动板、待测激光器、单模光纤、干涉仪和数据采集器;电源向激光器驱动板输入驱动电流信号,波形发生器向激光器驱动板输入三角波调制信号;激光器驱动板将经过三角波调制信号调制的驱动电信号输入至待测激光器以驱动待测激光器发射激光束并通过单模光纤进入干涉仪;干涉仪将待测激光器发射的激光束进行干涉;数据采集器采集和记录干涉仪的干涉信号;控制器对干涉信号进行处理和分析。该激光波长调制测量装置测量精度高且成本较低,能够解决现有技术中采用光谱分析仪测量激光波长时,其测量精度受限的问题。

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